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多导毛细聚焦XRF XAD-u
所属分类：膜厚仪镀层测厚仪
产品概述：全新上照式设计，采用国内首创、多导毛细聚焦X射线光学系统搭配自主研发的EFP算法和高灵敏度X射线检测系统光東尺寸最小可达5微米半高宽，对微电子设备、高级电路板、晶圆微区的镀层厚度和成分自动测试分析中尽显优势，测量精度达纳米级，同时高计数率保证镀层或含量测试结…
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